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燒蝕及涂層脫落等面狀損傷檢測,為什么選MViQ電子內(nèi)窺鏡

2021-07-26 11:03:55

燒蝕及涂層脫落是很多工業(yè)設備的常見缺陷，特別是在高溫環(huán)境下工作的設備，起保護作用的耐燒蝕涂層可能會隨著時間而逐漸脫落、并導致內(nèi)部基材出現(xiàn)燒蝕等問題。例如：火力發(fā)電廠的超臨界鍋爐設備以及受熱面管道等部件，涂層脫落及燒蝕狀況時有發(fā)生。這類損傷的特點是呈面狀，有一定的區(qū)域，還有像葉片缺損、外物沖擊的損傷、表面腐蝕等，往往也是有一定的面積的，這類損傷如果不加以干涉可能發(fā)展很快并導致安全問題。燒蝕及涂層脫落等面狀損傷檢測，韋林MViQ電子內(nèi)窺鏡是不錯的選擇。

快速查找并發(fā)現(xiàn)燒蝕及涂層脫落等面狀損傷

MViQ（全稱 Mentor Visual iQ）是一體化手持式電子內(nèi)窺鏡，在檢測前您可以根據(jù)預選檢測通道的實際情況，更換相應規(guī)格與用途的視頻探頭，直徑涵蓋4.0mm、6.1mm、8.4mm 、10mm等，長度則從2m到30m；開始檢測后，MViQ的人體工程學按鍵設計，可以方便您單手完成導向、鎖定、微調(diào)、復位等導向操作，360度全方位連續(xù)導向功能輔助您全面檢查；44萬像素數(shù)的清晰銳利圖像，以及高動態(tài)范圍圖像捕捉技術(shù)等，助力您快速發(fā)現(xiàn)燒蝕及涂層脫落等損傷；此外，MViQ的觸摸屏設計，更快、更容易導航，滑動觸摸屏進行放大，更快、更精確的選擇光標位置，自定義快捷觸摸按鍵等功能，讓各種設置以及控制操作都得心應手，提升檢測效率。

韋林MViQ電子內(nèi)窺鏡

準確測量燒蝕及涂層脫落的面積

使用韋林MViQ的三維立體測量技術(shù)進行缺陷測量，不僅效率高而且更準確。通過觸屏操作可以讓測量點光標快速到達目標大致區(qū)域，然后通過操縱桿及放大窗口精確定位；還可以快速查看掃描全局點云圖像對測量信息進行驗證；對同一張原始圖片，可以有多種觀察方式，更加豐富的顯示所觀察位置的高度等各種信息；所測量數(shù)據(jù)準確度為95%，精度為0.01mm，可信度高；此外，不僅支持實時測量，也支持將可測量圖像保存到電腦之后的重新測量，為檢測人員提供更多便利。

使用MViQ電子內(nèi)窺鏡測量燒蝕及涂層脫落等損傷的面積

對于發(fā)現(xiàn)的燒蝕及涂層脫落等面狀損傷，可以采用三維立體測量技術(shù)的“面積測量”模式測量損傷面積的大小，即：測量同一平面上多個光標圍成區(qū)域的面積，以幫助評估缺陷。以下分享一些關于面積測量的經(jīng)驗：測量曲面時，可通過測量多個小區(qū)域面積，綜合測量結(jié)果，減小誤差；可以結(jié)合測量平面來測量葉片缺失的面積，更為準確；要學會利用觀察點云圖的優(yōu)勢，確保測量光標放置在正確的位置，可有效的避免人為放點失誤造成的損傷情況誤判。

例如：在下圖中，當使用MViQ電子內(nèi)窺鏡的三維立體測量技術(shù)測量葉片缺損面積時，通過調(diào)用點云圖可以輕易發(fā)現(xiàn)，確定線的第二點并沒有放在當前葉片上，而是放在了下一級的轉(zhuǎn)子葉片上，及時修改打點位置，有助于測量的準確性。

三維立體測量技術(shù)有助于發(fā)現(xiàn)打點誤差

豐富的硬件接口使用更方便

- 1個Display Port高清視頻接口（用于音視頻，可以轉(zhuǎn)接VGA和HDMI接口）

- 1個USB 3.0 B 型接口（可實現(xiàn)設備與電腦連接，進行數(shù)據(jù)傳輸）

- 2個USB 3.0 A 型接口（用戶數(shù)據(jù)存儲，也可外接鍵盤）

- 1個3.5mm標準音頻接口（可使用3.5mm標準-國標插頭的耳機與麥克風，設備還支持藍牙耳機）

在使用MViQ內(nèi)窺鏡完成定性觀察、定量測量的任務后，可以利用其豐富的硬件接口將檢測信息轉(zhuǎn)存到其他介質(zhì)或電腦上，例如，可以使用USB接口將燒蝕及涂層脫落的缺陷照片或附近區(qū)域的檢測視頻傳輸?shù)诫娔X上。這樣可以為后續(xù)的檢測信息存檔、分享、以及流程管理提供便利。

燒蝕及涂層脫落等面狀損傷檢測，為什么選MViQ電子內(nèi)窺鏡，因為韋林MViQ是一款從用戶使用體驗及需求出發(fā)、精心打造的檢測產(chǎn)品。從最初的調(diào)研設計到后續(xù)的生產(chǎn)制造，凝聚了上千萬美元的財力投入、300000工時的打磨、200名工程師的設計與研發(fā)、3000多家客戶參與調(diào)研測試與試用反饋......不僅有出色的定性查找缺陷的能力，同時也有眾多測量模式和技術(shù)用于缺陷的準確量化分析，除了本文介紹的對面狀缺陷的測量外，對點狀缺陷、線狀缺陷的測量、以及深度及空間距離的測量，都比傳統(tǒng)測量技術(shù)更為準確高效。